VOLFRAM TARKIBLI RUDALARNING DASTLABKI MINERALOGIK TARKIBI VA ZARRALAR O'LCHAMINING BOYITISH JARAYONLARINI TADQIQ ETISHDAGI AHAMIYATI
Annotatsiya
Ingichka boyitish fabrikasi texnogen chiqindilarining mineralogik tarkibi, mineral donalarining o'lchamlari bo'yicha taqsimlanishi hamda mineralogik o'zgarish teksturalari tadqiq etilgan. Tadqiqotning asosiy maqsadi chiqindilar tarkibidagi foydali mineral fazalarni aniqlash va keyingi boyitish sinovlarini rejalashtirish uchun ilmiy-mineralogik asos yaratishdan iborat. Maydalangan namunadan tayyorlangan briket-anshlif ADF U300P polyarizatsion mikroskopi yordamida aks ettirilgan yorug'likda o'rganilgan. Mineral donalarining chegaralari va o'lchamlari 200 marta kattalashtirilgan mikrotasvirlarda ImageView dasturi yordamida baholangan. To'qqizta mikroskopik maydonda jami 837 ta zarra hisobga olingan. Noruda minerallar 693 ta donani tashkil etib, umumiy zarralar sonining 82,80 foiziga, rudali minerallar esa 144 ta donani tashkil etib, 17,20 foiziga teng bo'lgan. Rudali minerallar guruhida gyotitning ulushi 58,33 foizni, piritning ulushi esa 35,42 foizni tashkil etgan. Sheelit, vismutin va magnetit kam sonli donalar ko'rinishida qayd etilgan. Hisobga olingan zarralarning 582 tasi, ya'ni 69,53 foizi, o'lchami 71 mkm dan kichik bo'lgan guruhga mansubligi aniqlangan. Mineralogik kuzatuvlar natijasida piritning gyotit bilan qisman almashinishi, magnetitning martitlanishi, vismutinning plastinkasimon tuzilishi hamda pirit donalari chetida ikkilamchi mis sulfidlari sifatida talqin qilingan hoshiya mavjudligi aniqlangan. Olingan miqdoriy ko'rsatkichlar mineral donalarining soniga asoslangan bo'lib, minerallarning massa ulushlari yoki metallarning konsentratsiyasini ifodalamaydi. Tadqiqot natijalari foydali minerallarning ochilish darajasini qo'shimcha baholash, maydalashning maqbul rejimini tanlash hamda texnogen chiqindilarni qayta boyitish imkoniyatlarini o'rganish uchun ilmiy asos bo'lib xizmat qiladi. Mineral fazalarning optik diagnostikasini kimyoviy tahlil va skanerlovchi elektron mikroskopiya hamda energiya-dispersiyali rentgen spektroskopiyasi (SEM–EDS) tekshiruvlari bilan to'ldirish natijalarning aniqligini oshirish va texnologik qarorlarni ilmiy asoslash uchun muhim hisoblanadi.