EVALUATION OF THE MORPHOLOGY OF SINGLE-LAYER AND BILAYER TIO₂ PHOTOANODES BASED ON X-RAY TOMOGRAPHY

Abdulazizov Baxrom Toshmirza oʻ gʻ li Namangan davlat universiteti professori, fizika-matematika fanlari doktori (DSc) Annotatsiya.Ushbu maqolada boʻ yoq bilan sensibilizatsiyalangan quyosh elementlari uchun moʻ ljallangan bir va ikki qatlamli TiO₂ fotoanodlarning morfologik bir jinsliligi ilgari olingan rentgen tomografik tasvirlarning ikkilamchi tahlili asosida koʻ rib chiqiladi.Tahlilning asosiy obyekti qoplamaning fazoviy uzluksizligi, lokal qalinligi va qalinlikning yuza boʻ ylab taqsimotidir.Uch oʻ lchamli rekonstruksiya, nuqtaviy oʻ lchov va yuzaga nisbatan vaznlangan gistogramma oʻ zaro farqlanadigan axborot manbalari sifatida baholanadi.Bir qatlamli namunada keltirilgan 0,0541 mm lokal oʻ lchovning butun qoplama uchun oʻ rtacha qiymatni ifodalamasligi koʻ rsatiladi.Qalinlik taqsimotidagi asosiy soha hamda qoʻ shimcha yelka morfologik notekislikni tekshirishga asos boʻ lishi mumkinligi muhokama qilinadi.Oʻ rtacha qalinlik, vaznlangan dispersiya, variatsiya koeffitsiyenti va belgilangan qalinlik oraligʻ idagi yuza ulushini birgalikda qoʻ llashga asoslangan baholash tartibi bayon etiladi.Tahlil qoplamaning lokal geometriyasini qatlamlar sonidan alohida baholash, tomografik segmentatsiya ta'sirini hisobga olish va morfologik xulosalarni kuzatuvning fazoviy aniqligi bilan chegaralash zarurligini koʻ rsatadi.Kalit soʻ zlar: TiO₂; fotoanod;

Hali tarjima qilinmagan