Asosiy kontentga oʻtish
← Ishga qaytish

Ushbu ish iqtibos qilgan ishlar

7 ta ish

Ish: Methods for determining deep defect concentration from dependence of excess carrier density and lifetime on illumination intensity

  1. Sarlavhasiz

    BoshqaOchiq kirish4 iqtibos
    ABI
  2. Sarlavhasiz

    BoshqaOchiq kirish3 iqtibos
    ABI
  3. Sarlavhasiz

    Boshqa3 iqtibos
    ABI
  4. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  5. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  6. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI