In situ analysis of the crystallization process of Sb 2 S 3 thin films by Raman scattering and X-ray diffraction
Romain ParizeLaboratoire des matériaux et du génie physiqueThomas CossuetLaboratoire des matériaux et du génie physiqueOdette Chaix‐PlucheryLaboratoire des matériaux et du génie physiqueHervé RousselLaboratoire des matériaux et du génie physiqueEstelle AppertLaboratoire des matériaux et du génie physiqueVincent ConsonniLaboratoire des matériaux et du génie physique
2017en
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