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Atomic and cluster ion emission from silicon in secondary-ion mass spectrometry

C.-E. RichterVEB Werk für Fernsehelektronile Berlin im VEB Kombinat Mikrocietronik, Ostendstrasse 1-5, Berlin 116 D.D.RMichael TrappVEB Werk für Fernsehelektronile Berlin im VEB Kombinat Mikrocietronik, Ostendstrasse 1-5, Berlin 116 D.D.R

1981en

ABI

Annotatsiya

Annotatsiya mavjud emas.

Identifikatorlar

DOI: 10.1016/0020-7381(81)80016-2

Iqtiboslar va manbalar

3 ta iqtibos0 ta foydalanilgan manba

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