S. Lavanga

Работ: 1

SELEX Sistemi Integrati S.p.A

1. Ultra Low Noise Epitaxial 4H-SiC X-Ray Detectors

   G. Bertuccio, S. Caccia, F. Nava +7

   СтатьяSilicon Carbide Semiconductor TechnologiesMaterials science forum2009Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2009.article.000101