Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 7

Работа: A secondary ion mass spectrometry study of two-layer systems based on tellurium

1. Low-Frequency Negative Resistance in Thin Anodic Oxide Films

   T. W. Hickmott

   Статья1962Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.043093

2. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669535

3. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669536

4. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669537

5. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669538

6. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669539

7. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669540