A secondary ion mass spectrometry study of two-layer systems based on tellurium
В. А. ЛабуновRadiotechnical Institute, Minsk, U.S.S.RB. KolosnicinRadiotechnical Institute, Minsk, U.S.S.RD. MartonTechnical University, Budapest, HungaryZ. MiminoshviliInstitute of Technical Electronics, Moscow, U.S.S.R
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Темы
Идентификаторы
Цитирования и источники
Цитирований: 0Использованных источников: 7
Показатели — AkademScholar · Скоро