Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 6

Работа: Depth profiles of Sb atoms implanted into Ti

1. THE STOPPING AND RANGE OF IONS IN SOLIDS

   J. F. Ziegler

   Глава1988Цитирований: 15

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.034967

2. Silicides for VLSI applications

   S. P. Murarka

   Книга1983Цитирований: 6

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.212580

3. Concepts of Backscattering Spectrometry

   Wei‐Kan Chu, James W. Mayer, Marc‐A. Nicolet

   Глава1978Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.527496

4. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.659124

5. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.659125

6. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.659126