← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 4
Работа: Low Temperature Phase Transition (Pt) and Defect Formation (Df) in Silicon with Dioxide Inclusions Under X-Ray Irradiation
Defects in Irradiated Silicon: Electron Paramagnetic Resonance of the Divacancy
Статья1965Цитирований: 6ABI