Low Temperature Phase Transition (Pt) and Defect Formation (Df) in Silicon with Dioxide Inclusions Under X-Ray Irradiation
Sh. MakhkamovInstitute of Nuclear Physics, Uzbekistan Academy of Sciences, Tashkent, 702132, UzbekistanS. N. AbdurakhmanovaInstitute of Nuclear Physics, Uzbekistan Academy of Sciences, Tashkent, 702132, Uzbekistan
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Темы
Идентификаторы
Цитирования и источники
Цитирований: 0Использованных источников: 4
Показатели — AkademScholar · Скоро