The capacitance and IR-spectroscopy of defects in silicon and silicon structures
S.Z. ZajnabidinovKh.S. DalievTashkentskij Gosudarstvennyj Univ., Tashkent (Uzbekistan)
1995en
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Темы
Цитирования и источники
Цитирований: 0Использованных источников: 0
Показатели — AkademScholar · Скоро