Статья

Light-Induced Degradation Effects in a-Si:H Observed by Raman Scattering Measurements

Paul StradinsThin Film Silicon Solar Cells Super Laboratory, Electrotechnical Laboratory, Tsukuba, Ibaraki, 305-8568, JapanMichio KondoThin Film Silicon Solar Cells Super Laboratory, Electrotechnical Laboratory, Tsukuba, Ibaraki, 305-8568, JapanNobuhiro HataThin Film Silicon Solar Cells Super Laboratory, Electrotechnical Laboratory, Tsukuba, Ibaraki, 305-8568, JapanAkihisa MatsudaThin Film Silicon Solar Cells Super Laboratory, Electrotechnical Laboratory, Tsukuba, Ibaraki, 305-8568, Japan

MRS Proceedingsjournal1998en

ABI

Аннотация

Аннотация отсутствует.

Темы

Thin-Film Transistor Technologies Silicon and Solar Cell Technologies Silicon Nanostructures and Photoluminescence

Идентификаторы

DOI: 10.1557/proc-507-723

Цитирования и источники

Цитирований: 0Использованных источников: 14

Показатели — AkademScholar · Скоро