Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 4

Работа: Regular relief on a silicon surface as a structural defect getter

1. Structural Quality of Directly Bonded Silicon Wafers with Regularly Grooved Interfaces

   E. D. Kim, S. C. Kim, J. M. Park +4

   Статья1997Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.616007

2. Current and capacitance transient responses of MOS capacitor. I. General theory and applications to initially depleted surface without surface states

   C. T. Sah, H.-S. Fu

   Статья1972Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.624691

3. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.624692

4. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.624693