← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 11
Работа: The influence of irradiation on the microhardness and photoluminescence of SiO2
Leakage Current Distribution of Cu-Contaminated Thin SiO<sub>2</sub>
Norio Tokuda, Takahiro Kanda, Satoshi Yamasaki +2
Статья2003Цитирований: 4ABIEffect of ion irradiation on the depth profiles of microdefects in silicon
Е. С. Демидов, N. D. Latysheva, V. A. Perevoshchikov +2
Статья2000Цитирований: 2ABI