Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseскороОткрытый API экосистемы
Латиница
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 10

Работа: Single-shot reflection Z-scan for measurements of the nonlinear refraction of nontransparent materials

  1. Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam

    Mansoor Sheik‐Bahae, A. A. Said, Tai‐Huei Wei +2

    Статья1990Цитирований: 100
    ABI

  2. Reflection <i>Z</i>-scan technique for measurements of optical properties of surfaces

    Д. В. Петров, Alex Sandro Gomes, Cid B. de Araújo

    Статья1994Цитирований: 9
    ABI

  3. Measurement of refractive nonlinearities in GaAs above bandgap energy

    Marcelo Martinelli, Laércio Gomes, R. J. Horowicz

    Статья2000Цитирований: 7
    ABI

  4. Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam

    M. Martinelli, S. Bian, J. R. Leite +1

    Статья1998Цитирований: 5
    ABI

  5. Multiphoton absorption and nonlinear refraction of GaAs in the mid-infrared

    W. C. Hurlbut, Yun-Shik Lee, K. L. Vodopyanov +2

    Статья2007Цитирований: 4
    ABI

  6. Reflection z‐scan measurements of opaque semiconductor thin films

    R. A. Ganeev, A.I. Ryasnyansky

    СтатьяNonlinear Optical Materials Studiesphysica status solidi (a)2004Цитирований: 2
    ABI

  7. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  8. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  9. Nonresonant Nonlinearity of Silver Nanoparticles

    A. I. Ryasnyanskiı̆

    СтатьяNonlinear Optical Materials StudiesJournal of Applied Spectroscopy2005Цитирований: 1
    ABI

  10. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI