Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 2

Работа: Secondary ion emission under bombardment of GaAs monocrystal by molecular ions of copper phthalocyanine

  1. ToF-SIMS : surface analysis by mass spectrometry

    John C. Vickerman, D. Briggs

    Книга2001Цитирований: 5
    ABI