Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 1

Работа: Composition of uncontrolled impurities and their chemical states and depth profiles at the Al-Si interface

1. Optimum ion implantation and annealing conditions for stimulating secondary negative ion emission

   З. А. Исаханов, Z. E. Mukhtarov, Б. Е. Умирзаков +1

   СтатьяIon-surface interactions and analysisTechnical Physics2011Цитирований: 19

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2011.article.000044