← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 28
Работа: Hierarchical film formation and structural characterization using MeV-ion beams
A comprehensive review of ZnO materials and devices
Ümit Özgür, Ya. I. Alivov, C. Liu +6
Обзорная статья2005Цитирований: 35ABISimulated annealing analysis of Rutherford backscattering data
N.P. Barradas, C. Jeynes, R.P. Webb
Статья1997Цитирований: 5ABIFriction and wear properties of TiN, TiAlN, AlTiN and CrAlN PVD nitride coatings
Liu Aihua, Deng Jianxin, Cui Haibing +2
Статья2011Цитирований: 2ABIOptimization and thermal stability of TiAlN/Mo multilayers
Carlos J. Tavares, C. Vidrago, L. Rebouta +3
Статья2005Цитирований: 2ABIStructural properties and bandgap bowing of ZnO1−xSx thin films deposited by reactive sputtering
Bertrand Meyer, A. Polity, B. Farangis +4
Статья2004Цитирований: 2ABI