← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 31
Работа: X-Ray Diffraction and Raman Spectroscopy Analyses of GaSb-Enriched Si Surface Formed by Applying Diffusion Doping Technique
X-ray diffraction study of GaSb grown by molecular beam epitaxy on silicon substrates
Jean‐Baptiste Rodriguez, K. Madiomanana, L. Cerutti +2
Статья2016Цитирований: 2ABIIII–V compound materials and lasers on silicon
Wenyu Yang, Yajie Li, Fangyuan Meng +6
Статья2019Цитирований: 2ABI