Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, цитирующие эту работу

Работ: 4

Работа: Influence of frequency and bias voltage on dielectric properties and electrical conductivity of Al/TiO<sub>2</sub>/p-Si/p<sup>+</sup>(MOS) structures