Работы, цитирующие эту работу

Работ: 2

Работа: Reflection z‐scan measurements of opaque semiconductor thin films

1. Application of RZ-scan technique for investigation of nonlinear refraction of sapphire doped with Ag, Cu, and Au nanoparticles

   R. A. Ganeev, A.I. Ryasnyansky, А. Л. Степанов +3

   СтатьяNonlinear Optical Materials StudiesOptics Communications2005Цитирований: 8

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2005.article.000024

2. Single-shot reflection Z-scan for measurements of the nonlinear refraction of nontransparent materials

   R. A. Ganeev

   СтатьяNonlinear Optical Materials StudiesApplied Physics B2008Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2008.article.000067