Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
Глава

The Complexity of Testing Cryptographic Devices on Input Faults

Alisher IkramovNational University of Uzbekistan, Tashkent, UzbekistanGayrat JuraevNational University of Uzbekistan, Tashkent, Uzbekistan
Lecture notes in computer sciencebook series2021en
ABI

Аннотация

Аннотация отсутствует.

Темы

VLSI and Analog Circuit TestingMathematical Control Systems and Analysis

Идентификаторы

DOI
10.1007/978-3-030-92708-0_12

Цитирования и источники

Цитирований: 5Использованных источников: 2
Показатели — AkademScholar