Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. Electron spectroscopy of the nanostructures created in Si, GaAs, and CaF2 surface layers using low-energy ion implantation

   Б. Е. Умирзаков, Д. А. Ташмухамедова, D. M. Muradkabilov +1

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesTechnical Physics2013Цитирований: 19

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.253376