← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 18
Работа: Mechanism for the formation of molecular clusters under ion sputtering
Ion microprobe for studying cluster ion decay reactions
A. D. Bekkerman, Н. Х. Джемилев, V. M. Rotstein
Статья1990Цитирований: 16ABITime-of-Flight Measurements of Cesium-Iodide Cluster Ions
Werner Ens, Ronald C. Beavis, Kenneth G. Standing
Статья1983Цитирований: 9ABIFragmentation of cluster ions in SIMS: cluster distributions over lifetime, excitation energy and kinetic energy release
Н. Х. Джемилев, Amit Goldenberg, I.V. Veriovkin +1
СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms1996Цитирований: 7ABIStudy of the lifetime and the most probable energies of excited cluster ions
Н. Х. Джемилев, С. В. Верхотуров, I.V. Veriovkin
Статья1990Цитирований: 7ABIUnimolecular Decomposition of Sputtered<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:mrow><mml:mmultiscripts><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">Al</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>n</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow/><mml:mrow/><mml:mrow><mml:mo>+</mml:mo></mml:mrow></mml:mmultiscripts></mml:mrow></mml:math>,<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:mrow><mml:mmultiscripts><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">Cu</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>n</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow/><mml:mrow/><mml:mrow><mml:mo>+</mml:mo></mml:mrow></mml:mmultiscripts></mml:mrow></mml:math>, and<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:mrow><mml:mmultiscripts><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">Si</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>n</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow/><mml:mrow/><mml:mrow><mml:mo>+</mml:mo></mml:mrow></mml:mmultiscripts></mml:mrow></mml:math>Clusters
W. Begemann, K.‐H. Meiwes‐Broer, H. O. Lutz
Статья1986Цитирований: 5ABIStructures and Fragmentations of Small Silicon Oxide Clusters by ab Initio Calculations
Wen-Cai Lu, Cai‐Zhuang Wang, Vân Hà Nguyễn +3
Статья2003Цитирований: 4ABIAtomic and cluster ion emission from silicon in secondary-ion mass spectrometry
Статья1981Цитирований: 3ABIInternal energy of sputtered clusters: The influence of bombarding conditions
A. Wucher, A. D. Bekkerman, Н. Х. Джемилев +2
Статья1998Цитирований: 3ABI