Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

Работа: INFLUENCE OF THE INTERFACE ON THE ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF MIS STRUCTURES

1. On the Properties of the Si-SiO2 Transition Layer in Multilayer Silicon Structures

   Shakhrukh Kh. Daliev, Fayzulla A. Saparov

   СтатьяSilicon Nanostructures and PhotoluminescenceEast European Journal of Physics2023Цитирований: 3

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.402564