Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 4

Работа: Investigation of the surface recombination rate in polycrystalline films from the A⁶B⁶ compound by the MW-PC method

1. On the photoionization of deep impurity centers in semiconductors

   G. Lucovsky

   Статья1965Цитирований: 7

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532661

2. Synthesis and optical characterization of nanocrystalline CdTe thin films

   Ahmed A. Al‐Ghamdi, Shamshad A. Khan, A. T. Nagat +1

   Статья2010Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532650

3. Review of optical applications of CdTe

   R. O. Bell

   Статья1977Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532655

4. Review—Carrier Lifetime Spectroscopy for Defect Characterization in Semiconductor Materials and Devices

   E. Gaubas, E. Simoen, Jan Vanhellemont

   Статья2016Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532658