Interface states at the SiO2-Si interface
M. SchulzInstitut für Angewandte Physik der Universität Erlangen-Nürnberg, Glückstrasse 9, D-8520 Erlangen, Fed. Rep. of Germany
1983en
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Идентификаторы
Цитирования и источники
Цитирований: 3Использованных источников: 0