Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 5

Работа: Minority-Carrier Generation at the Interface between Silicon and Lead Borosilicate Glass

1. The Pulsed MIS Capacitor. A Critical Review

   Jaehyeon Kang, D.K. Schroder

   Обзорная статья1985Цитирований: 7

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.527893

2. Surface Charge Studies on Lead Borosilicate Glass Containing Trace Sodium

   Masaru Shimbo, Kazuyoshi Furukawa, K. Tanzawa +1

   Статья1987Цитирований: 5

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.524817

3. Energy Levels in Silicon

   J. W. Chen, A. G. Milnes

   Статья1980Цитирований: 4

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.646333

4. Interpretation of surface and bulk effects using the pulsed MIS capacitor

   D.K. Schroder, J. Guldberg

   Статья1971Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.610566

5. Current and capacitance transient responses of MOS capacitor. I. General theory and applications to initially depleted surface without surface states

   C. T. Sah, H.-S. Fu

   Статья1972Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.624691