Перейти к основному содержанию
Akadem
Index
Экосистема
Продукты
AkademIndex
Научный поиск и навигация
AkademScholar
Метрики и научная аналитика
AkademID
скоро
Идентификатор автора и профили
Для разработчиков
AkademBase
Открытый API экосистемы
Найти
О проекте
Охват
Помощь
Русский
Русский
Светлая
Светлая
Русский
Русский
Найти
← Назад к работе
Работы, цитирующие эту работу
Работ: 1
Light-Induced Degradation Effects in a-Si:H Observed by Raman Scattering Measurements
Paul Stradins
,
Michio Kondo
,
Nobuhiro Hata
+1
Статья
Thin-Film Transistor Technologies
MRS Proceedings
1998
Цитирований: 0
ABI
ABI:AkademIndex/openalex/1998.article.000157