Асосий контентга ўтиш
AkademIndex

Маҳсулотлар

Ишлаб чиқувчилар учун

AkademBaseЭкотизим учун очиқ API
Мақола

A secondary ion mass spectrometry study of two-layer systems based on tellurium

В. А. ЛабуновRadiotechnical Institute, Minsk, U.S.S.RB. KolosnicinRadiotechnical Institute, Minsk, U.S.S.RD. MartonTechnical University, Budapest, HungaryZ. MiminoshviliInstitute of Technical Electronics, Moscow, U.S.S.R
Thin Solid Filmsjournal1984en
ABI

Аннотация

Аннотация мавжуд эмас.

Мавзулар

Phase-change materials and chalcogenidesSemiconductor materials and interfacesSemiconductor materials and devices

Идентификаторлар

DOI
10.1016/0040-6090(84)90505-4

Иқтибослар ва манбалар

0 та иқтибос7 та фойдаланилган манба
Кўрсаткичлар — AkademScholar