The capacitance and IR-spectroscopy of defects in silicon and silicon structures
S.Z. ZajnabidinovKh.S. DalievTashkentskij Gosudarstvennyj Univ., Tashkent (Uzbekistan)
1995en
ABI
Аннотация
Аннотация мавжуд эмас.
Мавзулар
Иқтибослар ва манбалар
0 та иқтибос0 та фойдаланилган манба
Кўрсаткичлар — AkademScholar · Тез орада