← Ишга қайтиш
Ушбу иш иқтибос қилган ишлар
4 та иш
Иш: X-Ray Imaging and TEM Study of Micropipes Related to their Propagation through Porous SiC Layer/SiC Epilayer Interface
Micropipe evolution in silicon carbide
M. Yu. Gutkin, A. G. Sheĭnerman, T. S. Argunova +5
Мақола20032 иқтибосABI