Асосий контентга ўтиш
AkademIndex

Маҳсулотлар

Ишлаб чиқувчилар учун

AkademBaseЭкотизим учун очиқ API
Мақола

Investigation of γ-radiation defect formation at the Si-SiO 2 interface

S.Z. ZaynabidinovSh. Kh. YulchievР. АлиевAndijan State University Andijan Uzbekistan
2004en
ABI

Аннотация

Аннотация мавжуд эмас.

Мавзулар

Integrated Circuits and Semiconductor Failure AnalysisSilicon and Solar Cell TechnologiesIon-surface interactions and analysis

Иқтибослар ва манбалар

0 та иқтибос0 та фойдаланилган манба
Кўрсаткичлар — AkademScholar