Асосий контентга ўтиш
AkademIndex

Маҳсулотлар

Ишлаб чиқувчилар учун

AkademBaseЭкотизим учун очиқ API
← Ишга қайтиш

Ушбу иш иқтибос қилган ишлар

19 та иш

Иш: Study of doping uniformity of a 200 kV ion implanter by RBS and sheet resistance measurements

  1. Simulated annealing analysis of Rutherford backscattering data

    N.P. Barradas, C. Jeynes, R.P. Webb

    Мақола19975 иқтибос
    ABI
  2. SIMNRA, a simulation program for the analysis of NRA, RBS and ERDA

    M. Mayer

    Мақола19993 иқтибос
    ABI
  3. Fundamentals of surface and thin film analysis

    L. C. Feldman, James W. Mayer, F. Adams

    Мақола19892 иқтибос
    ABI
  4. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  5. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  6. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  7. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  8. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  9. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  10. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  11. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  12. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  13. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  14. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  15. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  16. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  17. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  18. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI
  19. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI