Ушбу ишга иқтибос қилган ишлар

1 та иш

Иш: Сравнительное исследование фотоэлементов на основе кремния, легированного никелем различными методами

1. Composition of silicon jointly doped with impurity atoms of gallium and phosphorus

   Н. Ф. Зикриллаев, S. Koveshnikov, X. S. Turekeev +1

   МақолаSilicon and Solar Cell TechnologiesПоверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования20240 иқтибос

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2024.article.007427