Асосий контентга ўтиш
AkademIndex

Маҳсулотлар

Ишлаб чиқувчилар учун

AkademBaseЭкотизим учун очиқ API
Боб

The Complexity of Testing Cryptographic Devices on Input Faults

Alisher IkramovNational University of Uzbekistan, Tashkent, UzbekistanGayrat JuraevNational University of Uzbekistan, Tashkent, Uzbekistan
Lecture notes in computer sciencebook series2021en
ABI

Аннотация

Аннотация мавжуд эмас.

Мавзулар

VLSI and Analog Circuit TestingMathematical Control Systems and Analysis

Идентификаторлар

DOI
10.1007/978-3-030-92708-0_12

Иқтибослар ва манбалар

5 та иқтибос2 та фойдаланилган манба
Кўрсаткичлар — AkademScholar