Atomic and cluster ion emission from silicon in secondary-ion mass spectrometry
C.-E. RichterVEB Werk für Fernsehelektronile Berlin im VEB Kombinat Mikrocietronik, Ostendstrasse 1-5, Berlin 116 D.D.RMichael TrappVEB Werk für Fernsehelektronile Berlin im VEB Kombinat Mikrocietronik, Ostendstrasse 1-5, Berlin 116 D.D.R
1981en
ABI
Аннотация
Аннотация мавжуд эмас.
Идентификаторлар
Иқтибослар ва манбалар
3 та иқтибос0 та фойдаланилган манба