Surface investigation of solids by the statical method of secondary ion mass spectroscopy (SIMS)
A. BenninghovenI. Physikalisches Institut, Universität zu Köln, Universitätsstrasse 14, 5 Köln 41, Germany
1973en
ABI
Аннотация
Аннотация мавжуд эмас.
Идентификаторлар
Иқтибослар ва манбалар
2 та иқтибос0 та фойдаланилган манба