Asosiy kontentga oʻtish
Akadem
Index
Ekotizim
Kashfiyot
AkademIndex
Ilmiy qidiruv va kashfiyot
AkademScholar
cheklangan
boshqa saytga oʻtadi
Ilmiy metrika va tahlil
Iqtiboslar faqat korpus ichidan sanaladi
Xizmatlar
AslMatn
boshqa saytga oʻtadi
Plagiat va AI-matn aniqlash
AkademJS
boshqa saytga oʻtadi
Boshqariladigan ilmiy nashr platformasi
AkademTranslit
tez orada
Transliteratsiya va tarjima
AkademAI
tez orada
Ekotizimning AI qatlami
AkademPreprint
tez orada
Preprint nashr platformasi
Identifikatsiya
AkademID
boshqa saytga oʻtadi
Tadqiqotchi identifikatori va profili
Ishlab chiquvchilar uchun
AkademBase
boshqa saytga oʻtadi
Maʼlumot infratuzilmasi va API
Ekotizim
AkademTech
boshqa saytga oʻtadi
Akademik infratuzilma ekotizimi
Qidirish
Loyiha haqida
Qamrov
Yordam
Oʻzbekcha
Oʻzbekcha
Yorugʻ
Yorugʻ
Oʻzbekcha
Qidirish
R. Swanepoel
1 ta ish
AkademScholarda batafsil koʻrsatkichlar
Determination of the thickness and optical constants of amorphous silicon
R. Swanepoel
Maqola
OA
Ochiq kirish
1983
2 iqtibos
ABI
ABI:AkademIndex/2026.other.172142