Asosiy kontentga oʻtish
AkademIndex

Xizmatlar

C. van der Marel

1 ta ish

Philips (Netherlands)

AkademScholarda batafsil koʻrsatkichlar

  1. Thickness and composition of ultrathin SiO2 layers on Si

    C. van der Marel, Marcel A. Verheijen, Y. Tamminga +3

    Maqola20042 iqtibos
    ABI