The capacitance and IR-spectroscopy of defects in silicon and silicon structures
S.Z. ZajnabidinovKh.S. DalievTashkentskij Gosudarstvennyj Univ., Tashkent (Uzbekistan)
1995en
Ochiq kirish: yoʻq
ABI
Annotatsiya
Annotatsiya mavjud emas.
Mavzular
Iqtiboslar va manbalar
0 ta iqtibos0 ta foydalanilgan manba