Ekotizim

Kashfiyot

Xizmatlar

AslMatnboshqa saytga oʻtadiPlagiat va AI-matn aniqlash
AkademJSboshqa saytga oʻtadiBoshqariladigan ilmiy nashr platformasi
AkademTranslittez oradaTransliteratsiya va tarjima
AkademAItez oradaEkotizimning AI qatlami
AkademPreprinttez oradaPreprint nashr platformasi

Identifikatsiya

AkademIDboshqa saytga oʻtadiTadqiqotchi identifikatori va profili

Ishlab chiquvchilar uchun

AkademBaseboshqa saytga oʻtadiMaʼlumot infratuzilmasi va API

Ekotizim

AkademTechboshqa saytga oʻtadiAkademik infratuzilma ekotizimi

Loyiha haqida Qamrov Yordam

Maqola

Structural characterization and electro-physical properties for SiOC(–H) low-k dielectric films

A. S. ZakirovHeat Physics Department, Uzbek Academy of Sciences, Tashkent 100135, UzbekistanP. K. KhabibullaevHeat Physics Department, Uzbek Academy of Sciences, Tashkent 100135, UzbekistanChi Kyu Choi

Physica B Condensed Matterjournal2009en

Ochiq kirish: yoʻq

ABI

Annotatsiya

Annotatsiya mavjud emas.

Mavzular

Copper Interconnects and Reliability Semiconductor materials and devices Advanced ceramic materials synthesis

Identifikatorlar

DOI: 10.1016/j.physb.2009.08.260

Iqtiboslar va manbalar

0 ta iqtibos14 ta foydalanilgan manba