Ushbu ish iqtibos qilgan ishlar

14 ta ish

Ish: Structural characterization and electro-physical properties for SiOC(–H) low-k dielectric films

1. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.531289

2. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.531290

3. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.531291

4. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.531292

5. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.531293

6. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.531294

7. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.531295

8. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.531296

9. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.531297

10. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.531298

11. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.531299

12. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.531300

13. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.531301

14. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.531302