Ushbu ish iqtibos qilgan ishlar

21 ta ish

Ish: Characterization of the three-dimensional residual stress distribution in SiC bulk crystals by neutron diffraction

1. Silicon Carbide as a Platform for Power Electronics

   C. R. Eddy, D. Kurt Gaskill

   Maqola20092 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.218802

2. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.356267

3. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.356268

4. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.356269

5. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.356270

6. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.356271

7. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.356272

8. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.356273

9. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.356274

10. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356275

11. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356276

12. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356277

13. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356278

14. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356279

15. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356280

16. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356281

17. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356282

18. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356283

19. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356284

20. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356285

21. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.356286