Asosiy kontentga oʻtish
Maqola

Transient capacitance spectroscopy of silicon MIS-structures with an impurity of vanadium

Kh.S. DalievNational University of Uzbekistan, TAshkent, Uzbekistan

Ochiq kirish: yoʻq

ABI

Annotatsiya

Annotatsiya mavjud emas.

Mavzular

Iqtiboslar va manbalar

0 ta iqtibos0 ta foydalanilgan manba