Топология поверхности тонких плёнок ZnO1-xSx, полученных методом ультразвукового спрей-пиролиза
С. З. ЗайнабидиновАндижанский государственный университетХ.Ж. МансуровАндижанский государственный университетАкрамжон Йулдашбоевич БобоевНИИ физики полупроводников и микроэлектроники при Национальном университете УзбекистанаF. K. KhallokovИнститут ядерной физики Академии наук Республики УзбекистанаН.Ю. Юнусалиев
2023ru
ABI
Annotatsiya
Определено, что на поверхности пленок ZnO1-хSх в процессе нанесенияметаллооксидных слоев формируются наноостровки ZnO1-хSх со средней высотой около30−50 нм и плотностью 2.9×1011 см−2. Определено, что толщина выращенного слоясоставляет ~400 нм, диаметр наноостровков ZnO1-хSх от 50 до 200 нм, слои растутперпендикулярно к подложке вдоль оси z с кристаллографической ориентацией (111). Сростом дозы γ-облучения средняя площадь основания и высота наноостровковуменьшаются и становятся почти одинакового размера и геометрической формы. Установлено, что почти 90% нанообъектов имеют высоту 18 нм после γ-облучениядозами 5×106 рад.
Hali tarjima qilinmagan
Identifikatorlar
Iqtiboslar va manbalar
0 ta iqtibos2 ta foydalanilgan manba