MaqolaFundamentals of surface and thin film analysisL. C. Feldman·James W. Mayer·F. Adams·1989·enABIABI:AkademIndex/2026.other.609020Iqtibos keltirishAnnotatsiyaAnnotatsiya mavjud emas.IdentifikatorlarDOI10.1016/s0003-2670(00)81920-0Iqtiboslar va manbalar2 ta iqtibos0 ta foydalanilgan manba