Ushbu ish iqtibos qilgan ishlar

7 ta ish

Ish: A secondary ion mass spectrometry study of two-layer systems based on tellurium

1. Low-Frequency Negative Resistance in Thin Anodic Oxide Films

   T. W. Hickmott

   Maqola19622 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.043093

2. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669535

3. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669536

4. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669537

5. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669538

6. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669539

7. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.669540