Surface investigation of solids by the statical method of secondary ion mass spectroscopy (SIMS)
A. BenninghovenI. Physikalisches Institut, Universität zu Köln, Universitätsstrasse 14, 5 Köln 41, Germany
1973en
ABI
Annotatsiya
Annotatsiya mavjud emas.
Identifikatorlar
Iqtiboslar va manbalar
2 ta iqtibos0 ta foydalanilgan manba